技術專題
一、典型干涉系統:
1、斐索干涉儀:
基本特點: ①屬于等厚干涉 ②干涉光束,一個來自標準反射面,一個來自被測面。
條紋分析:注意應用比例關系:
2、邁克爾遜干涉儀:
特點:和垂直時是等傾干涉,否則為等厚干涉。
3、泰曼干涉儀:
特點:在邁克爾遜的一個光路中了被測光學器件。
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